Test des réseaux numériques complexes: IEEE 1149.6

La norme IEEE 1149.1 répond parfaitement aux besoins de test structurel des nœuds numériques classiques, mais se révèle incomplète pour les circuits LVDS ou à couplage capacitif. Elle peut en effet laisser passer à tort des défauts sur ceux-ci. C'est la raison pour laquelle a été développée l'extension IEEE 1149.6 (AC-EXTEST). Celle-ci s'appuie sur des composants compatibles point 6 coté émission et réception d'un réseau complexe pour envoyer et lire des impulsions de données. Toute défaillance d'un réseau LVDS ou à couplage capacitif (par exemple, une broche ouverte ou en court-circuit avec la masse, un condensateur ouvert, etc.) peut être détectée par la réponse à ces impulsions.

JTAG ProVision détecte la présence des composants compatibles point 6 et génère automatiquement les tests évolués correspondants, ainsi que des diagnostics précis. Ces derniers indiquent clairement où un défaut a été détecté et peuvent être exploités par JTAG Visualizer pour présenter une vue de la zone défectueuse sur le schéma ou la disposition.