L’avenir : futures normes boundary-scan

Plusieurs groupes de travail IEEE œuvrent actuellement à faire progresser la technologie boundary-scan. A terme, leurs travaux pourront éventuellement déboucher sur des normes officielles, applicables par les fabricants de composants, de cartes et de systèmes. Les principaux travaux en cours sont les suivants :

IEEE 1149.7: un surensemble de la norme 1149.1, entièrement compatible avec celle-ci, visant à réduire le nombre de points de test et à étendre les fonctionnalités de la liaison entre les systèmes de test 1149.1 et les cibles.

IEEE P1581: ce groupe de travail définit un protocole standard pour tester l'interconnexion de puces mémoire complexes économiques, ne disposant pas de broches de test supplémentaires et n'autorisant donc pas la mise en œuvre de boundary-scan en leur sein. Le test d'interconnexion des composants mémoire étant déjà possible au moyen de JTAG ProVision et 1149.1, les travaux du groupe P1581 peuvent être vus comme une autre approche.

SJTAG: ces travaux n'en sont qu'au stade préliminaire et ne font pas encore l'objet d'un groupe de travail au sein de l'IEEE. L'objectif est de normaliser les méthodes de test au niveau système. Les fonctions de niveau système sont d'ores et déjà bien prises en charge par JTAG ProVision et des outils antérieurs, qui intègrent cette capacité pour tous les ponts commercialisés par National Semiconductor, Texas Instruments, Lattice Semiconductor et Firecron.

JTAG Technologies participera étroitement à tous ces travaux afin de se maintenir en pointe. Pour en savoir plus, consultez le site officiel de l'IEEE.