JTAG Boundary-Scan, fermement ancré dans les normes IEEE

JTAG Technologies participe activement au développement des normes et standards du marché. De fait, nous avons dirigé à la fin des années 1980 le tout premier groupe de travail dont les travaux ont abouti à la spécification révolutionnaire IEEE 1149.1. Cette norme dite « JTAG boundary-scan » a été publiée pour la première fois en 1990 et mise à jour deux fois depuis lors. Elle définit la logique de test à inclure dans les circuits intégrés, pouvant être utilisée au niveau carte pour des opérations précises de test structurel et de programmation in-situ.

Depuis la publication de la spécification IEEE 1149.1, trois autres normes ont été élaborées, chacune dérivée de cette version point 1 pour la compléter à des fins spécifiques. IEEE 1149.4 (boundary-scan analogique), publiée en 2000, et IEEE 1149.6 (ac-EXTEST), publiée en 2003, étendent les capacités de test de boundary-scan au-delà de son domaine numérique d'origine. La troisième norme, IEEE 1532, instaure un format commun de description pour les composants programmables, tels que PLD ou FPGA, de façon à faciliter leur configuration au moyen de boundary-scan.

Enfin, différents travaux sont en cours afin d'étendre encore la norme JTAG boundary-scan, notamment:

• IEEE 1149.7 (réduction du nombre de points de test JTAG)

• P1581 (extension du test aux composants mémoire)

• SJTAG (extension au niveau système)

JTAG Technologies participera étroitement à tous ces travaux afin de se maintenir en pointe. Pour en savoir plus, consultez le site officiel de l'IEEE.