Symphony de JTAG Technologies: une méthodologie combinée et cohérente

Le test in-situ et le test à sondes mobiles sont deux méthodes traditionnelles de test structurel encore répandues aujourd'hui. Le test in-situ utilise une interface spéciale, une par type de carte, contenant un grand nombre de sondes qui entrent en contact physique avec les points de test sur la cible. Via ces sondes, des stimuli électriques sont appliqués à la carte et les résultats sont lus sur celle-ci.

Le test à sondes mobiles consiste également à établir un contact physique avec des points de test mais seulement via un nombre restreint de points à la fois. Selon la marque du système, le nombre de sondes est généralement compris entre 4 et 24. Les sondes de test se déplacent à grande vitesse, ce qui permet de réaliser une série de tests sans interface.

Avec la densification et la complexification des cartes au fil des années, le test in-situ et le test à sondes mobiles souffrent tous deux de la nécessité d'établir un contact physique avec les points de test sur la carte, d'où l'émergence de boundary-scan comme technologie de test plus performante pour les systèmes électroniques actuels. Cependant, des parties d'un système peuvent toujours se prêter à un test in-situ ou à sondes mobiles. Par exemple, la partie analogique d'une carte mixte peut être parfaitement testable par l'une ou l'autre de ces techniques classiques. En pareil cas, la stratégie de test peut envisager l'utilisation d'un système combiné Symphony, dans lequel les outils boundary-scan JTAG Technologies sont employés pour tester la partie numérique de la cible et intégrés au sein du testeur in-situ ou fonctionnel. Il en résultera une stratégie de test complète, avec une couverture élevée pour les composants numériques et analogiques sur une seule et même plate-forme. Nous proposons des versions de Symphony intégrées avec un grand nombre des système de test aujourd'hui les plus répandus :

• Symphony pour 3070: combinaison de nos outils matériels et logiciels boundary-scan avec le testeur Agilent 3070, disponible sous HP-UX ou Windows. Un composant exclusif de notre solution Symphony 3070 est le contrôleur boundary-scan JT 37x7/APC. Ce dernier est un module qui s'enfiche directement dans la tête de test du 3070 et offre donc un moyen extrêmement pratique d'intégrer la technologie boundary-scan dans votre système de test in-situ 3070.

• Symphony 228x et 228xPLUS: pour les testeurs in-situ Teradyne (etanciens modèles GenRad). Notre solution incorpore également le module CFM (Custom Function Module) qui assure l'isolation entre le contrôleur et le testeur in-situ.

• Symphony APT-9000: pour la série de testeurs à sondes mobiles Takaya APT-9400.

• Symphony 3030: pour les système de tests in-situ SPEA. Un autre composant spécial de notre solution pour le SPEA 3030 est le module SAM (SPEA Adapter Module) qui facilite l'intégration de boundary-scan dans votre testeur SPEA 3030.

D'autres solutions d'intégration avec les outils matériels et logiciels de JTAG Technologies sont disponibles auprès de nos partenaires OEM.