Des modules auxiliaires pour enrichir les applications boundary-scan

Un aspect important dans le développement de vos applications boundary-scan concerne l'optimisation de la testabilité et des performances de programmation. Reportez-vous à nos brochures DFT où vous trouverez de précieux conseils afin de tirer le meilleur parti de cette technologie.

L'une des solutions les plus efficaces pour augmenter la couverture de test consiste à utiliser des modules DIMM. Nous proposons une gamme étendue de modules DIMM, parmi lesquels vous êtes certain d'en trouver un répondant à vos besoins. Ces modules fournissent des ressources boundary-scan supplémentaires procurant un accès de test à des zones de la carte ou du système qui seraient sans cela inaccessibles. Par exemple, ils peuvent servir à effectuer des tests à travers des connecteurs de bord de carte ou d'atteindre des clusters boundary-scan sur la carte. La fonction Coverage (couverture) de JTAG ProVision indique les gains obtenus en matière de testabilité.

Il existe deux types de modules DIMM : les modules d'usage général DIOS (Digital Input/Output Scan) et les modules STM (Socket Test Modules). Les modules DIOS s'installent sur des connecteurs DIMM standard à 168 broches et fonctionnent sous différentes tensions et fréquences d'horloge de test, jusqu'à 45 MHz. Certains des modules DIOS sont programmables, ce qui permet de les utiliser pour enrichir le test fonctionnel.

Une application typique des modules STM est le test des connecteurs femelles (sockets) sur le système. Ces modules sont disponibles dans des versions STM comportant de 100 à 300 broches, y compris dans des formats miniatures.

Pour plus d'informations, reportez-vous à la brochure sur les modules DIOS/ STM.

Nous proposons également une gamme étendue d'accessoires pour simplifier les applications boundary-scan et répondre à des besoins spéciaux. Consultez l'un de nos bureaux commerciaux pour en savoir plus.