Notes applicatives

Mettez à profit l'expérience existante grâce aux Notes applicatives de JTAG Technologies, qui décrivent l'utilisation de boundary-scan pour la réalisation de problèmes pratiques et concrets. Les liens permettent de télécharger des PDF sur les sujets suivants :

AN-1      Mise en œuvre de modules MCM compatibles boundary-scan pour les applications de test et de programmation in-situ

AN-2      Programmation des EEPROM série

AN-2.1  Serial Memory Device Programming

AN-3      Utilisation de contrôleurs multiples pour programmation en mode gang

AN-4      Multiplexage des lignes de données et d'adresses dans les applications flash

AN-5      Utilisation de configurations à plusieurs chaînes boundary-scan

AN-6      Test d'interconnexion de SDRAM DDR

AN-7      Test d'horloges libres

AN-8      Utilisation de Boundary-scan Fault Coverage Examiner pour déterminer la testabilité et la couverture des défauts effectivement obtenue

AN-9      Programmation SVF de la clé de sécurité de conception des composants Altera Stratix II

AN-10    Alignement des flux binaires SVF sur 32 bits pour les composants Xilinx Virtex et Spartan 3

AN-11    Instruction RESET dans les fichiers SVF de programmation des PLD

AN-12    Améliorer les performances de la programmation flash en sautant les zones vides

AN-13    Programmation en mode AS (Active-Serial) des composants flash Altera, y compris la famille Cyclone III et l'EPCS128. Un logiciel supplémentaire est nécessaire. Un jeu de fichiers SVF préparés et de modèles de programmation flash est fourni ce document.

AN-14 Parallel Programming of Serial Memory Devices

Vous avez une application spécifique? Soumettez-la nous.