Extension de boundary-scan au test analogique et mixte : IEEE 1149.4

La norme IEEE 1149.4 a été publiée en 2000, avec pour objectif de fournir une solution à base de circuit intégré pour effectuer des mesures analogiques sur les cartes électroniques. La spécification « point 4 » ajoute 2 broches au port TAP : une broche de stimulation analogique (AT1) et une broche de lecture analogique (AT2). Les ressources à l'intérieur du CI conforme à cette spécification permettent de connecter AT1 et AT2 aux bus de test analogiques et, de là, aux broches analogiques sur le CI à stimuler ou à lire. Il est possible de mesurer des valeurs de résistance et de capacité ainsi que des niveaux de tension dès que lors que des composants compatibles IEEE 1149.4 sont présents sur la carte.

Pour en savoir plus sur les capacités de boundary-scan dans le domaine analogique, procurez-vous le Kit d'évaluation JTAG Technologies, fourni avec une carte de démonstration et une instrumentation analogique.