Partenaires stratégiques
National Instruments
JTAG Technologies est un partenaire Corporate et Alliance de National Instruments. Les produits JTAG Technologies sont entièrement compatibles avec la gamme de produits National Instruments, notamment les contrôleurs boundary-scan PXI, les packs logiciels d'intégration à la production pour TestStand, LabVIEW et LabWindows.
National Semiconductor Corporation
La gamme de produits d'accès de test système (STA) de National Semiconductor et JTAG Technologies coopèrent dans la définition de niveau système et de solutions de test analogique pour répondre aux problèmes concrets de la fabrication électronique d'aujourd'hui. En conséquence, National Semiconductor propose des circuits intégrés permettant ces solutions et JTAG Technologies propose des produits et des fonctions supportant les solutions qui emploient des matériels PCB et niveau système de National. Par exemple, JTAG-1149.4 Explorer est un produit intégrant IEEE 1149.4 (norme de test analogique par l'intermédiaire de boundary-scan) qui permet aux concepteurs d'explorer et d'exploiter les capacités du circuit intégré STA400 de National. Le logiciel de développement de JTAG Technologies contient également le support intégré pour la gamme d'IC de gestion de chaîne ScanBridge de National.
LogicVision
JTAG Technologies est un partenaire compatible LV pour LogicVision. Le partenariat rationalise l'intégration de test intégré au niveau matériel et de diagnostic avec test au niveau de la carte et du système. Les utilisateurs profitent non seulement de gains de productivité mais aussi de la capacité de réduction considérable des coûts de support du produit à long terme en éliminant les nombreux rejets sans défaut détecté (NFF) et en réutilisant les modèles de test intégrés au sein du composant matériel au niveau du matériel, de la carte et plus avant dans l'environnement de terrain. La possibilité d'accéder à cette puissante fonction de test intégré et d'analyser les données de test qui en résultent en conjonction avec la base de données de conception 'LVReady' de LogicVision permet de diagnostiquer les défaut de composant d'un matériel jusqu'au niveau de la passerelle.
Les produits JTAG Technologies, développés en collaboration avec LogicVision, autorisent d'une part le test d'un ASIC contenant un test intégré via l'interface boundary-scan avec analyse des données de test en résultant en conjonction avec la base de données de conception de LogicVision. Par ailleurs, un test boundary-scan peut demander qu'un test matériel intégré soit exécuté dans le cadre d'un test de carte à plus haut niveau ou de système.
